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제품소개

HIOKI

LCR미터/저항계

임피던스 아날라이저

IM7581

- 측정 주파수 : 100kHz - 300MHz

- 주파수 및 레벨을 스윕하는 임피던스 아날라이저 기능

- 설정 조건으로 반복 검사하는 LCR 미터 기능

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상세정보
기술사양

● 측정 주파수 : 100kHz~300MHz
● 측정 시간 : 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간)
● 기본 정확도 : ± 0.72 % rdg.
● 본체는 하프 랙 사이즈, 테스트 헤드는 손바닥 크기
● 충실한 컨택트 체크(DCR 측정, Hi-Z리젝트, 파형 판정)
● 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨을 스윕시키며 측정

측정 모드	LCR (LCR 측정), 아날라이저(스윕(sweep) 측정), 연속 측정
측정 파라미터	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
정확도 보증 범위	100 mΩ~5 kΩ
표시 범위	Z : 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp X : ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp : ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q : ± (0.00~9999.99) θ : ± (0.000 ° ~ 180.000 °), Cs, Cp : ± (0.00000 p~9.99999 GF) D : ± (0.00000~9.99999) Y : (0.000 n~9.99999 GS) G, B : ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ % : ± (0.000 % ~999.999 %)
기본 정확도	Z : ± 0.72 % rdg. θ : ± 0.41 °
측정 주파수	100.00 kHz~300.00 MHz (5자리 분해능)
측정 신호 레벨	전력(dBm) 모드 : -40.0 dBm~ +7.0 dBm 전압(V) 모드 : 4 mV~1001 mVrms 전류(I) 모드 : 0.09 mA~20.02 mArms
출력 임피던스	50 Ω
디스플레이	컬러 TFT 8.4 inch, 터치 패널
측정 시간	최속 0.5 ms (FAST, 아날로그 계측 시간, 대표값)
기능	컨택트 체크, 콤퍼레이터, BIN 판정(분류 기능), 패널 로드/세이브, 메모리 기능, 등가 회로 해석, 상관 보정
인터페이스	EXT I / O (핸들러), USB 통신, USB 메모리, LAN RS-232C (옵션), GP-IB (옵션)
전원	AC 100 ~ 240 V, 60 Hz, 70 VA max
치수 · 질량	본체 : 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 테스트 헤드 : 61W × 55H × 24D mm, 175 g
부속품	테스트 헤드 × 1 케이블 × 1, 사용설명서 × 1, CD-R (통신 사용설명서) × 1, 전원 코드 × 1