특징
- 9 빈 정렬
- 256 멀티채널 보정
- 4268A 및 4288A와 호환 가능한 SCPI 명령 및 핸들러/스캐너 인터페이스
- 높은 값의 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 일정한 테스트 레벨(자동 레벨 제어)
E4981A 캐패시턴스 미터는 생산 라인에서 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 고속의 신뢰할 수 있는 측정을 지원합니다.
E4981A는 정확한 측정으로 작은 값에서 큰 값에 이르는 캐패시턴스 측정 기능을 실현했습니다. 테스트 처리율을 향상시키면서
세라믹 캐패시터 테스트를 위한 탁월한 구성요소 품질을 달성했습니다.
| E4981A | |
| 주파수 범위 | 120.1 kHz ~ 1 MHz |
| 기본 Z 정확도 | 0.07% |
| 측정 디스플레이 범위 | 10 fF ~ 2 mF |
| 기능 | D |
| 측정 기법 | ABB |
| 주요 어플리케이션 | MLCC |
| Test fixture/test leads | |
| Description | Model number |
| Test fixture for SMD or chip type DUT, f ≤ 40 MHz | 16034E |
| SMD/칩 테스트 픽스처, 소형, DC-120 MHz | 16034G |
| SMD/칩 테스트 픽스처, 배열 타입, DC-120 MHz | 16034H |
| Four-terminal test fixture for SMD or chip type DUT, f ≤ 10 MHz | 16044A |
| Test fixture for axial or radial DUT, f ≤ 13 MHz | 16047A |
| Axial 및 Radial 테스트 픽스처, DC-120 MHz | 16047E |
| Test leads, length 1 m (BNC connector) | 16048A |
| Test leads, length 2 m (BNC connector) | 16048D |
| 외부 전압 바이어스, 안전 덮개 포함 (≤ 200 Vdc), 50 Hz-2 MHz | 16065A |
| 외부 바이어스 어댑터 (≤ 40 Vdc), 100 Hz-1 MHz | 16065C |
| Kelvin 클립 리드, 5 Hz-100 kHz | 16089A/B/C/D |
| SMD/chip 트위저 테스트 픽스처 DC-15 MHz | 16334A |
| 유전체 테스트 픽스처 DC-30 MHz | 16451B |
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