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KEYSIGHT
LCR미터
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RF 컴포넌트 테스트를 위한 안정적인 성능

E5061B ENA 시리즈 네트워크 분석기

주파수: 100 kHz ~ 3 GHz

- 다양한 테스트 세트 옵션 중에서 테스트 요구 사항에 가장 적합한 구성을 선택: 100 kHz ~ 1.5 GHz/3 GHz, 2-포트, 50 또는 75 ohm, 전송/반사 또는 S-파라미터 테스트 세트
- LF-RF 옵션 (Option 3L5)으로 광범위한 어플리케이션 지원: 5 Hz ~ 3 GHz, 2-포트, 50 ohm, S-파라미터 테스트 세트, 이득-위상 테스트 포트, 내장 DC 바이어스 소스
- 하나의 계측기에 애플리케이션을 맞춤 구성하기 위하여 네트워크 분석과 임피던스 분석을 결합 (Option 3L5와 005 결합)
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테스트 비용 절감
- 높은 처리율, 반복성 및 신뢰성으로 정확하고 믿을 수 있는 테스트 스테이션 생성
- 직관적인 사용자 인터페이스로 측정 흐름을 간소화하고 더 짧은 시간에 더 나은 결과 실현
- 주파수 및 테스트 포트와 같은 하드웨어 및 소프트웨어를 포함한 업그레이드를 통해 자산 보호

보다 다양한 측정 기능으로 더 깊은 통찰력 실현
- 선형 및 비선형 디바이스 특성 분석
- 시간 도메인, 주파수 도메인 및 eye 다이어그램 분석의 고속 시리얼 인터커넥트 분석
- 재료 측정, 전력 무결성 분석 및 새로운 애플리케이션을 위해 확장 가능


E5061B ENA 시리즈
최대 주파수3 GHz
동적 범위120 dB
출력 전력10 dBm
트레이스 노이즈0.005 dBrms
내장 포트 수2 포트
고조파-25 dBc
노이즈 플로어-110 dBm
201 포인트, 1스위프 일 때 최고 속도9 ms
어플리 케이션S-파라미터, DTF(Distancee-To-Fault), 반사 손실,
삽입 손실/이득, LF 회로 (5 Hz)
컴포넌트케이블, 앰프, 공진기, DC-DC 컨버터/PDN,
안테나/코일/RFID, 필터, LCR 콤포넌트
50 Ω RF NA options
E5061B-115Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 50 Ω system impedance
E5061B-215S-parameter test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 50 Ω system impedance
E5061B-135Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 3 GHz, 50 Ω system impedance
E5061-235S-parameter test set, 100 kHz to 3 GHz, 50 Ω system impedance
75 Ω RF NA options
E5061B-117Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 75 Ω system impedance
E5061B-217S-parameter test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 75 Ω system impedance
E5061B-137Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 3 GHz, 75 Ω system impedance
E5061B-237S-parameter test set, 100 kHz to 3 GHz, 75 Ω system impedance
LF-RF NA option
E5061B-3L5LF-RF network analyzer with DC bias source, 5 Hz to 3 GHz